EDAX OIM Analysis™ – 用于挖掘和理解电子背散射衍射 (EBSD) 面分布数据的高级微观结构可视化和分析工具。只需单击一下，即可了解这个强大的工具如何绘制大型多维数据集，或从其全面分析组合中提取有用数据，以表征具有挑战性的材料。OIM Analysis不仅提供了对材料特性的丰富的洞察力，而且对新手和专家用户都适用。
图 1. 自定义图显示 a） EBSD 图像质量和 IPF 取向图，b） 具有挛晶界的 PRIAS 和晶粒图，以及 c） 从高熵合金钎焊中去除挛晶后的晶粒图
图2. 取向图和相图显示了原位加热过程中 BCC 铁素体相和 FCC 奥氏体相之间的转变。
图3. 在这个部分再结晶的钢样品中，可以单独识别和分析变形和再结晶区域，以更好地了解再结晶行为
图4. OIM Matrix 提高了取向精度，并消除了增材制造的 316L 合金的 KAM 图中的噪声。
图5. 相图显示了ChI-Scan如何使用EDS和EBSD的组合信息来消除相似晶体结构之间的误标，并展示清晰的相图。分别为ChI-Scan分析前（左）和后（右）的相位图。绿色相为可伐合金（FeNiCo），橙色相为铜，均具有FCC晶体结构。
图 6. PRIAS 分布图显示出标准 SEM 探头在 EBSD 样品几何位向下通常无法观察到的物相、取向和拓扑衬度。