图 1.谱线数据库匹配采用
适合于谱线强度的Chi Square检验
或适合于浓度结果的
Chi Square检验。
谱线数据库匹配是一套配有多种应用程序的多功能工具，包括：
- 失效分析和质量控制 — 可将缺陷与潜在污染物库进行比对。
- 过程控制 — 结合相分布和谱线数据库匹配可快速识别分布和组成的变化。
- 逆向工程 — 材料成分可与材料的标准成分库进行匹配。
无论采用何种应用程序，如今用户均可通过单击按钮来找到其匹配项。
图 2.EDS 谱，其中两个谱图存在未知（绿色）重叠，
与 SbS 材料（蓝色）达到 81.53％ 的匹配率。
当前谱与库文件中谱线的匹配基于Chi square方法检验，可直接比较浓度或谱图（图 1）。匹配灵敏度可调节，让用户能够从完全相同到大致相同范围内完全控制匹配结果。潜在匹配谱图叠加在原始谱线上，直观显示的差异和匹配百分比可衡量谱图的相似度或不相似度。图 2 所示为含有两个重叠谱图的示例谱线，其中 SbS 的匹配值为 81.53％，CaSO4.的匹配值为 62.64％。通过肉眼观察很快便会发现，样品与最佳匹配谱线之间的差异可在 Si、Ti、Ba 和 Zr 含量中找到。
可通过附带的谱图搜索工具轻松完成 TEAM™ 软件的谱线数据库匹配库创建。用户能够通过手动选择特定项目节点或添加筛选条件来识别具有所需特性的谱图，从而搜索存储在系统上的完整谱图数据库。筛选条件如下：
- 采集日期
- 存在的既定元素的（含原子数 %、重量 % 或净密度范围）
- 样品名称
- 使用的 kV
完成谱图选择之后，系统会将其保存到谱线数据库匹配库文件中，可在用户和系统之间共享，甚至可将系统数据库中的所有数据添加到谱线数据库匹配库文件中，以便最终回答“嗯，这个我之前在哪里见到过？”之类的琐碎问题。