充分利用数据：OIM Analysis 9 中的高级 EBSD 数据处理和报告
星期四, 二月 27, 2025
对于电子背散射衍射 （EBSD） 用户来说，典型的测量结果是反映样品微观结构的面分布图和图表。在许多情况下，可能只需要通用图表，如反极图 （IPF） 和图像质量 （IQ） 图，只需单击鼠标即可生成。除了这些基本分析选项外，EDAX OIM Analysis™软件还提供了丰富的分析工具，用于量化材料的许多微观结构。自定义分析允许对微观结构的特定特征进行有针对性和高度详细的分析。此外，高亮显示功能侧重于 EBSD 分析的主要优势之一：每个测量点的位置都已知，并且可以链接到所有可用的显示图交互显示。EBSD 花样再处理与球标定技术相结合，将分析能力扩展到以前根本无法测量的材料。
为了更好地引导用户了解所有功能，OIM Analysis 9.1 引入了一种新的功能区栏布局，该布局将对基本分析工具的轻松访问与使用模板的强大自定义功能相结合。当用户需要进行重复分析时，例如，为了质量控制或在一系列实验后比较一组样品的微观结构，只需在模板中定义一次分析，并且可以直接从功能区栏中轻松重复。此类模板还可用于创建在数据采集完成后，自动生成自定义报告。本次网络研讨会将指导您了解 OIM Analysis 9.1 的工作流程和功能，包括从基本数据分析到自动报告功能。